BS-6025TRF Research Upprätt metallurgiskt mikroskop
BS-6025TRF
Introduktion
BS-6025-serien upprättstående metallurgiska mikroskop har utvecklats för forskning med ett antal banbrytande design i utseende och funktioner, med brett synfält, högupplöst och ljust/mörkt fält semi-apokromatiska metallurgiska objektiv och ergonomiskt operativsystem, de är födda till tillhandahålla en perfekt forskningslösning och utveckla ett nytt industrimönster.Objektiven kan motoriseras styrda av knapparna på mikroskopets främre bas, belysningsintensiteten kommer att ändras efter byte av objektiv.
Funktioner
1.Utmärkt oändligt optiskt system.
Med det utmärkta oändliga optiska systemet ger BS-6025-seriens upprättstående metallurgiska mikroskop högupplösta, högupplösta och kromatisk aberrationskorrigerade bilder som kan visa detaljerna i ditt prov mycket bra.
2.Modulär design.
Mikroskop i BS-6025-serien har designats med modularitet för att möta olika industriella och materialvetenskapliga tillämpningar.Det ger användarna flexibilitet att bygga ett system för specifika behov.
3. Bekväm kontroll.
(1) Motoriserad objektivomkopplare och ECO-funktion.
Mål kan ändras genom att helt enkelt trycka på de roterande knapparna.Användare kan också själv definiera två av de mest använda målen och växla mellan dessa två mål genom att trycka på den gröna knappen.Ljusintensiteten kommer att justeras automatiskt efter att du ändrat objektivet.
Mikroskopljuset släcks automatiskt efter 15 minuter från det att operatörerna lämnat.Det sparar inte bara energi, utan sparar också lampans livslängd.
(2) Genvägsknappar.
Med denna genvägsknapp kan användaren snabbt byta två förinställda mål.Denna genvägsknapp kan också ställas in med andra funktioner av användare.
4.Bekväm och lätt att använda.
(1) NIS45 Infinite Plan Semi-APO och APO-mål.
Med högt transparent glas och avancerad beläggningsteknik kan NIS45 objektivlins ge högupplösta bilder och exakt återge den naturliga färgen på proverna.För speciella applikationer finns en mängd olika objektiv tillgängliga, inklusive polarisering och långa arbetsavstånd.
(2) Nomarski DIC.
Med en nydesignad DIC-modul blir höjdskillnaden på ett prov som inte kan detekteras med ljusfält en reliefliknande eller 3D-bild.Den är idealisk för observation av LCD-ledande partiklar och ytrepor på hårddisk etc.
(3) Fokuseringssystem.
För att göra systemet lämpligt för förarnas arbetsvanor, kan fokuseringsratten och steget justeras till vänster eller höger sida.Denna design gör operationen mer bekväm.
(4) Ergo Tilting Trinocular Head.
Okularröret kan justeras från 0° till 35°，Trinokulärt rör kan anslutas till DSLR-kamera och digitalkamera, med en 3-positions stråldelare (0:100),100:0, 80:20), kan splitterbalken monteras på vardera sidan enligt användarens krav.
5. Olika observationsmetoder.
Darkfield (Wafer)
Darkfield möjliggör observation av spritt eller diffrakterat ljus från provet.Allt som inte är platt reflekterar detta ljus medan allt som är platt verkar mörkt så att ofullkomligheter tydligt framträder.Användaren kan identifiera förekomsten av till och med en liten repa eller defekt ner till 8nm-nivån - mindre än upplösningseffektgränsen för ett optiskt mikroskop.Darkfield är idealiskt för att upptäcka små repor eller defekter på ett prov och undersöka spegelytexemplar, inklusive wafers.
Differentialinterferenskontrast (ledande partiklar)
DIC är en mikroskopisk observationsteknik där höjdskillnaden för ett prov som inte kan detekteras med ljusfält blir en reliefliknande eller tredimensionell bild med förbättrad kontrast.Denna teknik använder polariserat ljus och kan anpassas med ett urval av tre specialdesignade prismor.Den är idealisk för att undersöka prover med mycket små höjdskillnader, inklusive metallurgiska strukturer, mineraler, magnetiska huvuden, hårddiskmedia och polerade waferytor.
Transmitted Light Observation (LCD)
För genomskinliga prover som LCD-skärmar, plaster och glasmaterial är observation av transmitterat ljus tillgängligt genom att använda en mängd olika kondensorer.Undersökning av prover i transmitterat ljusfält och polariserat ljus kan utföras i ett bekvämt system.
Polariserat ljus (asbest)
Denna mikroskopiska observationsteknik använder polariserat ljus som genereras av en uppsättning filter (analysator och polarisator).Provets egenskaper påverkar direkt intensiteten av ljuset som reflekteras genom systemet.Den är lämplig för metallurgiska strukturer (dvs växtmönster för grafit på nodulärt gjutjärn), mineraler, LCD-skärmar och halvledarmaterial.
Ansökan
Mikroskop i BS-6025-serien används ofta i institut och laboratorier för att observera och identifiera strukturen hos olika metaller och legeringar, det kan också användas inom elektronik-, kemisk- och halvledarindustrin, såsom wafer, keramik, integrerade kretsar, elektroniska chips, tryckta kretskort, LCD-paneler, film, pulver, toner, tråd, fibrer, pläterade beläggningar, andra icke-metalliska material och så vidare.
Specifikation
| Artikel | Specifikation | BS-6025RF | BS-6025TRF | |
| Optiskt system | NIS45 Infinite Color Corrected Optical System (Tubelängd: 180mm) | ● | ● | |
| Betraktningshuvud | Ergo Tilting Trinocular Head, justerbart 0-35° lutande, interpupillärt avstånd 47mm-78mm;klyvningsförhållande Okular: Trinokulärt = 100:0 eller 20:80 eller 0:100 | ● | ● | |
| Seidentopf Trinocular Head, 30° lutande, interpupillärt avstånd: 47mm-78mm;klyvningsförhållande Okular: Trinokulärt = 100:0 eller 20:80 eller 0:100 | ○ | ○ | ||
| Seidentopf kikarehuvud, 30° lutande, pupillavstånd: 47 mm-78 mm | ○ | ○ | ||
| Okular | Superbred fältplan okular SW10X/25mm, dioptri justerbar | ● | ● | |
| Superbred fältplan okular SW10X/22mm, dioptri justerbar | ○ | ○ | ||
| Extra bred fältplan okular EW12.5X/16mm, dioptri justerbar | ○ | ○ | ||
| Okular med bred fältplan WF15X/16mm, dioptri justerbar | ○ | ○ | ||
| Okular med bred fältplan WF20X/12mm, dioptri justerbar | ○ | ○ | ||
| Mål | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO-mål (BF & DF) | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11 mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ● | ● | ||
| NIS45 Infinite LWD Plan APO-mål (BF & DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ● | ● | ||
| Nosstycke | Bakåt motoriserad sextuppel nosstycke (med DIC-kortplats) | ● | ● | |
| Kondensor | LWD-kondensor NA0.65 | ○ | ● | |
| Transmitterad belysning | 12V/100W halogenlampa, Kohler-belysning, med ND6/ND25-filter | ○ | ● | |
| 3W S-LED-lampa, mittförinställd, intensitetsjusterbar | ○ | ○ | ||
| Reflekterad belysning | Reflekterat ljus 12W/100W halogenlampa, Koehler-belysning, med 6-läges torn | ● | ● | |
| 100W halogenlamphus | ● | ● | ||
| BF1 ljusfältsmodul | ● | ● | ||
| BF2 ljusfältsmodul | ● | ● | ||
| DF mörkfältsmodul | ● | ● | ||
| Binbyggt ND6, ND25 filter och färgkorrigeringsfilter | ● | ● | ||
| ECO-funktion | ECO-funktion med ECO-knapp | ● | ● | |
| Motoriserad kontroll | Nosstyckes kontrollpanel med knappar.2 av de mest använda målen kan ställas in och bytas genom att trycka på den gröna knappen.Ljusintensiteten kommer att justeras automatiskt efter att objektivet ändrats | ● | ● | |
| Fokusering | Lågläge koaxial grov- och finfokusering, findelning 1μm, Rörelseområde 35 mm | ● | ● | |
| Max.Specimen Höjd | 76 mm | ● | ||
| 56 mm | ● | |||
| Skede | Dubbla lager mekaniskt steg, storlek 210mmX170mm;rörelseområde 105mmX105mm (höger eller vänster handtag);precision: 1 mm;med hård oxiderad yta för att förhindra nötning, kan Y-riktningen låsas | ● | ● | |
| Waferhållare: kan användas för att hålla 2”, 3”, 4” wafer | ○ | ○ | ||
| DIC-sats | DIC Kit för reflekterad belysning (can användas för 10X, 20X, 50X, 100X mål) | ○ | ○ | |
| Polariserande kit | Polarisator för reflekterad belysning | ○ | ○ | |
| Analysator för reflekterad belysning,0-360°vridbar | ○ | ○ | ||
| Polarisator för genomsänd belysning | ○ | |||
| Analysator för genomsänd belysning | ○ | |||
| Andra tillbehör | 0,5X C-monteringsadapter | ○ | ○ | |
| 1X C-monteringsadapter | ○ | ○ | ||
| Dammskydd | ● | ● | ||
| Strömsladd | ● | ● | ||
| Kalibreringsslid 0,01mm | ○ | ○ | ||
| Provpressare | ○ | ○ | ||
Obs: ● Standardoutfit, ○ Tillval
Certifikat
Logistik
